【摘要】磁控电抗器(MagneticControlledReactor,MCR).系统的损耗主要包括铁芯损耗、绕组损耗、半导体器件损耗以及由漏磁产生的杂散损耗等。各项损耗最终都会以热的形式在电抗器内部产生温升效应,导致局部绝缘老化,进而危害电抗器的安全、经济运行。因此,对磁控电抗器损耗问题进行研究,得出各部件的损耗分布,总结出一些降低损耗的实用措施,不仅可以为电抗器生产厂家减少材料成本,也可以为设 […]